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研究型傅里葉變換紅外光譜儀FI-RXF200 是新推出的一款研究型傅里葉變換紅外光譜儀，能更好地滿足科研用戶不同的需求。FI-RXF200 擁有優(yōu)于 0.25cm-1 光譜分辨率、光譜范圍可擴(kuò)展到 12800-350cm-1，可選擇光源和檢測(cè)器的自動(dòng)切換，同時(shí)兼容各種內(nèi)置、外置型附件，F(xiàn)I-RXF200 推動(dòng)國(guó)產(chǎn)紅外光譜儀向科研級(jí)邁上了一個(gè)新的臺(tái)階。
產(chǎn)品特點(diǎn)
優(yōu)異的光譜分辨率
FI-RXF200 全光譜分辨率優(yōu)于 0.25cm-1，擁有高的信噪比，并可以升級(jí)到更高的光譜分辨率，可以適用于絕大部分科研需求。
寬光譜擴(kuò)展功能
FI-RXF200 傅里葉變換紅外光譜儀可以通過光學(xué)組件的自動(dòng)切換，將標(biāo)準(zhǔn)的中紅外譜區(qū)(8000-350cm-1)擴(kuò)展到近紅外譜區(qū)(12800-4000cm-1)，可以實(shí)現(xiàn)在同一臺(tái)主機(jī)上進(jìn)行中、近紅外譜區(qū)的分析研究，拓展了研究范圍。傅立葉變換近紅外光譜儀具有優(yōu)勢(shì)：通常情況下，樣品無需稀釋即可進(jìn)行測(cè)量，由于玻璃在近紅外波段是透明的，樣品可以直接放置在玻璃瓶中進(jìn)行分析。
高性能設(shè)計(jì)
FI-RXF200 傅里葉變換紅外光譜儀專為科研實(shí)驗(yàn)室需求而設(shè)計(jì)，它集操作簡(jiǎn)單、高性能設(shè)計(jì)和高性價(jià)比等優(yōu)點(diǎn)于
一身。標(biāo)準(zhǔn)配置室溫型DLaTGS 檢測(cè)器，也可以選配液氮冷卻 MCT 檢測(cè)器、半導(dǎo)體制冷 MCT 檢測(cè)器、液氮制冷銻化銦檢測(cè)器、半導(dǎo)體制冷銦鎵砷檢測(cè)器等各種高靈敏度探測(cè)器，有效應(yīng)對(duì)科研用戶各種需求的高靈敏度和高光通量。FI-RXF200 所有檢測(cè)器，均基于最新的雙通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器及 32 位動(dòng)態(tài)范圍，使儀器的電子噪聲值達(dá)到更低。
簡(jiǎn)單靈活的軟件功能
FI-RXF200 傅里葉變換紅外光譜儀采用全中文內(nèi)核和界面，所有的操作和分析評(píng)價(jià)功能均可用于處理批量文件。并集成了全自動(dòng)采集功能、在線實(shí)時(shí)反應(yīng)監(jiān)測(cè)軟件，適用于化工制藥的合成反應(yīng)、催化反應(yīng)、電化學(xué)反應(yīng)等中間反應(yīng)過程的動(dòng)態(tài)機(jī)理研究。
研究型傅里葉變換紅外光譜儀FI-RXF200 主要技術(shù)參數(shù)
項(xiàng)目 | 標(biāo)準(zhǔn)配置 | 可選配置 |
光譜分辨率 | ≤0.25cm-1 | |
光譜范圍 | 8000-350cm-1 | 12800-4000cm-1 |
光源 | 陶瓷光源 | 鎢絲燈 |
分束器 | 鍍鍺KBr | 石英分束器、CaF2 分束器、硒化鋅分器等 |
檢測(cè)器 |
標(biāo)配：室溫 DLaTGS | 選配：液氮制冷型MCT; 半導(dǎo)體制冷 MCT 檢測(cè)器、液氮制冷銻化銦檢測(cè)器、液氮制冷鍺檢測(cè)器、半導(dǎo)體制冷銦鎵砷 檢測(cè)器等 |
樣品腔 | 透射樣品腔 | 選配：發(fā)射紅外口、外置樣品腔，UHV 的真空 密封外接腔等 |
波數(shù)精度 | ≤0.01 cm-1 | |
信噪比 | ≥45,000:1 | |
透過率精度 | ≤0.1%T | |
干涉儀 | 立體角鏡干涉儀 | |
外接附件和樣品倉(cāng)可選附件
FI-RXF200 傅里葉變換紅外光譜儀應(yīng)用方向
優(yōu)異制藥及生命科學(xué)
蛋白質(zhì)構(gòu)象及濃度定量
對(duì)水溶液中藥物成分和賦形劑的高靈敏度的定量分析
微生物鑒定
與熱分析聯(lián)用對(duì)醫(yī)藥產(chǎn)品的揮發(fā)性、穩(wěn)定性進(jìn)行表征
聚合物和化學(xué)制品
與熱分析聯(lián)用對(duì)揮發(fā)過程和分解過程進(jìn)行檢測(cè)和表征
實(shí)驗(yàn)室條件下的反應(yīng)過程的監(jiān)控（配套中紅外 ATR 光纖探頭）
表面分析
超薄膜和單分子層薄膜的檢測(cè)和表征腐蝕過程的表征
建筑材料發(fā)射率的檢測(cè)
紅外窗片、鏡面等光學(xué)材料的特性評(píng)價(jià)采用光聲光譜對(duì)黑色材料進(jìn)行研究
半導(dǎo)體硅業(yè)
各種非金屬膜厚的測(cè)量
質(zhì)量控制中碳/氧雜質(zhì)的測(cè)定
土壤分析
土壤中養(yǎng)分和有機(jī)質(zhì)的評(píng)估土壤特性研究
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